SSPC和JPCL将主办一场免费的网络研讨会，讨论关于SSPC 新的PA2 制定情况。
时间：2012年10月17日 星期三 美国东部时间11:00 AM~12:00 PM
主讲人：Bill Corbett KTA-Tator 技术服务经理
会议介绍：
SSPC的涂层厚度测量标准自1973年首次出版以来，经过了多次的编辑和小修改，但是现在仅仅是小修改已无法满足现代工业发展的要求了，重修涂层厚度测量标准众望所归。修订后的标准将侧重于测量采集的频率和可接受性，而量具的使用标准参照ASTM D7091执行。
此次的研讨会将讨论新的PA 2，其中包括针对标准中特殊应用提供指导的8个附录。 会议还将对ASTM D7091的基本内容进行说明。
